VMS0745H4K高清4K电子显微镜数码体视
VMS0756H4K是连续变倍连续变倍镜头显微镜主体、4KHDMI相机和10英寸的显示器（选配其他尺寸显示器）、LED环形光源组成。立体显微镜操作方便、直观、检定效率高,适用于电子工业生产线的检验、印刷线路板的检定、印刷电路组件中出现的焊接缺陷（印刷错位、塌边等）的检定、单板PC的检定、真空荧光显示屏VFD的检定等等，立体显微镜将实物的图像放大后显示在计算机的屏幕上，可以将图片编辑、保存和打印。配测量软件可以测量各种数据。
VMS171A高清三目连续变倍体视显微镜
VMS171A三目连续变倍体视显微镜采用LED上下光源，具有高分辨率，高清晰度和强立体感等特点，并且可连续变倍。创新推拉式三通切换拉杆，定格定倍机构以及倍率限位功能设计，进一步缓和了使用者长时间操作带来的疲劳感，符合人机工程学原理。广泛用于教学示范、生物解剖、农林业的种子检查筛选、公安部门的刑侦检测，电子精密部件装配检修，纺织业的品质控制、 文物邮票的辅助鉴别及各种物质表面观察。
CM80BD研究级高分子材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM80BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM80BD-AF电动研究级8寸大平台金相显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM80BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM60BD研究级金相材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM60BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM60BD-AF电动研究及金相显微镜晶圆检测半导体FPD检查
电动研究级材料检测显微镜CM60BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM40BD研究级材料检测显微镜金相分析
研究级材料检测显微镜CM40BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM40BD-AF电动研究级材料检测显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM40BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CMD-2010M工具测量显微镜
CMD系列工具显微镜，是一种集软件、光、机、电一体的高精度、高效率的显微测量仪器，是同时具有高精度线性测量和观察功能的多功能量测仪器； CMD-2010M主体机构通过搭配MT三目光学测量镜筒、高清数字相机、照明装置、升降机构及对焦机构，具有多种数据测量、显微放大、显示输入和输出等数据处理功能。
VM3500M科研级透反射金相显微镜金相组织分析
科研级三目正置透反射金相显微镜VM3500M采用优质的无限远色差校正光学系统，全新设计的一体化T型机架，全金属高压模铸而成，稳定性强，高倍观察时像面无抖动，确保高倍测量的检测精度。内置明场、偏光观察功能，单颗10W LED暖白光照明图像高亮度、高分辨率、正色还原。适合观察金相试样分析，工业检测电子芯片等样品。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
VMS171A-4KR三目连续变倍体视显微镜上下光源4K高清输出
VMS171A-4KR高清4K连续变倍体视显微镜广泛用于教学示范、生物解剖、农林业的种子检查筛选、公安部门的刑侦检测，电子精密部件装配检修，纺织业的品质控制、 文物邮票的辅助鉴别及各种物质表面观察。
ATE-25三维立体数码显微镜
一、产品概述 ATE-25三维数码视频显微镜基于无限远光学系统，0.6-5.0X 连续变倍主体，0.5XC接口，工作距离86mm。配备1/2” SONY CMOS图像传感器相机，1920*1080分辨率。可广泛应用于微电子、精密电子、精密五金件、深孔壁、生命科学、动植物形态、刑侦鉴定等等行业