产品概述:
粒径统计分析
显微镜03C-UV-G是一套专门用于大的固体粉末、建筑沙石、颜料涂层及各类反光材料进行粒径统计的显微分析系统，颗粒的检测范围：20~10000μm。该系统能自动提取每个颗粒的形状，并计算颗粒的尺寸，面积，圆度等参数，自动统计出颗粒的平均直径，及各个区间粒径所占的比例。系统配置了科研级三目透射显微镜
XS-18C，粒度分析软件UV-G，专业高清晰
CCD成像系统，电脑，打印机。精选专业高清晰模拟
摄像头，使得图像边缘清晰，颗粒的提取更准确.粒度分析软件能自动对颗粒进行统计并给出相应的粒径报表，以供打印输出。该系统应用范围广泛，凡是与颗粒图像形态学有关的各种检测与分析：例如固体粉末、建筑沙石、颜料涂层，漆表面缺陷分析，农业种子形态分析，各种微小异性几何尺寸测量，化学工业中各种反应物粒子的形态分析等，都可以利用UV-G来完成。
性能特点：
2、可进行透反射观察，立体感强，成像清晰；
3、配置了日本松下专业高清晰模拟摄像头，拍摄图像清晰；
4、能对颗粒图像进行多种测量，包括直径，圆度，面积等等，并能自动统计平均粒径，生成数据统计报表。测试结果准确。
技术参数：
| 序号 | 名称 | 技术参数 |
| 01 | 目镜 | 高眼点大视野目镜10X(Φ22mm) |
| 02 | 物镜 | 0.7X-5.5X 物镜变倍比 1：7.9 |
| 03 | 总放大倍数 | 7X-55X（选购0.5X、2X大物镜，20X目镜可达3.5X-220X） |
| 04 | 观察头 | 三目，视度调节±5屈光度 45°倾斜 360°旋转 |
| 05 | 瞳距 | 54-75mm |
| 06 | 视场范围 | 4.0-31.4mm |
| 07 | 工作距离 | Zui大工作距离105mm |
| 08 | 调节范围 | 升降调节范围45mm 立杆高240mm |
| 09 | 载物台 | 配有压片和φ95mm玻璃台板和黑白工作板 |
| 10 | 光源 | 上下LED灯照明，独立开关,亮度可调，发热量低,寿命长 |
| 11 | 仪器重量 | 净重：5.0kg 毛重：6.5kg |
| 12 | 仪器尺寸 | 仪器尺寸24X34X42（cm） 包装尺寸 52X30X42（cm） |
系统配置：
| 序号 | 配置名称 | 主要规格参数 |
| 01 | 三目体视显微镜XT-03C | 7-55X |
| 02 | 日本松下专业高清摄像头 | 彩色, Zui低照度：0.0003Lux(SENS UP模式) |
| 03 | 专业高精度图像采集卡 | 实时采集PAL制、NTSC制标准黑白/彩色信号，10 bit A/D采样 |
| 04 | 摄像接口MCL | 1X或者0.5X |
| 05 | 粒度分析软件UV-G | 包含所有基本测量功能，可以自动提取颗粒，自动统计颗粒的粒径，输出EXCEL报告。 |
| 06 | 联想台式机 | XP、win7系统，内存1G以上，独立显卡512M以上，PCI插槽 |
| 07 | 佳能打印机 | 彩色激光打印机 |
显微镜选购件：
| 序号 | 名称 | 技术参数 |
| 01 | 目镜 | 大视野 WF15X(Φ15mm)、20X（Φ12mm） |
| 02 | 大物镜 | 0.5X、2X |
| 03 | 测微目镜 | 10X（Φ22mm） |
| 04 | 物镜测微尺 | 0.01mm |
| 05 | 光源 | 环形荧光光源、环形LED光源（四区可调）、双支冷光源 |
| 06 | 移动工作台 | 移动范围X-Y：70X50mm |
摄像系统选购：
| 序号 | 名称 | 参数及功能 |
| 01 | CCD数字摄像头 | 140万、200万、500万（具有单张、定时采集图像、录像、显示比例尺、测量、图像拼接，融合等功能，并可以连接多媒体、打印、EMAIL等多种输出方式。） |
| 02 | CMOS数字摄像头 | 500万、800万、900万、1000万、1400万（具有单张、定时采集图像、录像、显示比例尺、测量、图像拼接，融合等功能，并可以连接多媒体、打印、EMAIL等多种输出方式。） |
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