9J光切法显微镜
9J光切法显微镜

9J光切法显微镜

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品牌
MicroDemo
产品编号
1364
产品型号
9J光切法显微镜
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产品用途

光切法显微镜以光切法测量零件加工表面的微观不平度。其能判别国家标准GB1031-68所规定▽3-▽9级表面光洁度(表面粗糙度)对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。光切法特点是在不破坏表面的情况下进行的。是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。

产品规格

测量范围不平度平均高度值(微米) 表面光洁度级别 所需物镜 总放大倍数 工作距离(毫米) 视场(毫米)
>0.8~1.6 9 60倍N.A.0.55 510倍 0.04 0.3
>1.6~6.3 8~7 30倍N.A.0.40 260倍 0.2 0.6
>6.3~20 6~5 14倍N.A.0.20 120倍 2.5 1.3
>20~80 4~3  7倍N.A.0.12  60倍  9.5 2.5

1、摄影装置放大倍数:约6倍

2、测量不平度范围:0.8~80 μm

3、不平宽度 用测微目镜:0.7μm~2.5 mm、用坐标工作台:0.01~13 mm

4、仪器重量:约23 Kg

5、外形尺寸:约180×290×470 mm

型号配件

1、   仪器主体1台

2、   测微目镜1件

3、   座标工作台1件

4、   V型块1件

5、   标准尺1件

6、   7X物镜1只

7、   14X物镜1只

8、   30X物镜1只

9、   60X物镜1只

10、可调变压器1台

11、2.1W/6V灯泡3个