FM-Nanoview EC-AFM环境控制光学金相显微镜原子力一体机
FM-Nanoview EC-AFM环境控制光学金相显微镜原子力一体机

FM-Nanoview EC-AFM环境控制光学金相显微镜原子力一体机

工程师支持
品牌
MicroDemo
产品编号
2737
产品型号
FM-Nanoview EC-AFM环境控制型原子力显微镜
服务支持
景通仪器负责发货,并提供服务支持
起订量
市场报价
发货日
1
面议
3-7天
询底价 在线工程师

景通显微镜报价网友情提示:

由于该产品已进行多次功能升级和更新迭代,我们不保证 FM-Nanoview EC-AFM环境控制光学金相显微镜原子力一体机提供的图片和各项参数等信息均为最新,我们建议您点击此处联系我们的在线工程师为您服务,同时我们也欢迎您电话咨询:!

更多精彩请访问: FM-Nanoview EC-AFM环境控制型原子力显微镜(光学金相显微镜原子力一体机) https://www.sipmv.com/products/pe/afm/ec-afm/

FM-Nanoview EC-AFM产品特点

  • 光学金相显微镜原子力显微镜一体化设计,功能强大
  • 同时具备光学显微镜原子力显微镜成像功能,两者可同时工作,互不影响
  • 可同时在普通空气环境、液体环境、温度控制环境、惰性气体控制环境下工作
  • 样品扫描台和激光检测头封闭式设计,内部可充放特殊气体,无需增加密封罩
  • 激光检测采用了垂直光路设计,配合气液两用型探针架可在液体下工作
  • 单轴驱动样品自动垂直接近探针,使针尖垂直于样品扫描
  • 马达控制加压电陶瓷自动探测的智能进针方式,保护探针及样品
  • 超高倍光学定位系统,实现探针和样品扫描区域精确定位
  • 集成扫描器非线性校正用户编辑器,纳米表征和测量精度优于98%


应用案例

EC-AFM环境控制型原子力显微镜应用

EC-AFM技术参数

image.png