B系列高分辨率正置生物显微镜
B系列生物显微镜是专为临床及高校实验设计，广泛地用于生物、病理、组胚、遗传等领域。不仅消除了轴向色差，而且径向色差也得到有效控制。高反差，高分辨率，大清晰范围。
Ci-POL个人型偏光显微镜
紧凑灵巧，尼康ECLIPSE Ci-POL是个人型偏光显微镜且无需占用您的整个桌面。具备尖端的CFI60光学系统，其提供出色的光学特性与友好的使用易用性。内置的一键拍照按钮就位于机身底座的前部，与尼康DS相机配合可实现一键拍照.
CKX31奥林巴斯倒置生物显微镜
采用可倾斜式双目观察筒，使用户在站着的时候也能进行观察。另外，它紧凑的设计方便用户加装培养箱，使用户在观察某些标本时不需要到其他地方进行，非常方便。
CKX41型奥林巴斯倒置显微镜
CKX41奥林巴斯倒置显微镜是专为细胞培养观察而生的光学倒置显微镜。具有双目倾斜式观察筒，站着观察都没有问题，也可以提供可连接多种照相机的三目观察筒。多种附件轻松升级。
CL-CM40BD颗粒大小分析设备
CL-CM40BD自动清洁度颗粒污染分析设备是采用光学显微镜测定颗粒清洁度、颗粒污染度的专业仪器。高精度电动平台，自动化分析软件，高清图像扫描相机，具有自动化高、工作流程化设计模式，操作简便，采集图像快速高效，无缝拼接浏览，智能识别统计，按照选择标准生成结果及报告。针对在制造和装配过程中的颗粒污染物残留，检查电路板电子元件、检测航空航天部件、汽车零部件、食品加工设备和环境中的微生物和残留物。也适用于油品清洁度检测，润滑油清洁度颗粒检测，乳化液清洁度检测，防冻液清洁度检测颗粒检测。
CM120BD-AF研究级电动12寸大平台金相显微镜半导体芯片/晶圆/LCD检查
研究级电动12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节，12寸大工作平台特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM120BD研究级12寸大平台半导体芯片晶圆检查LCD检查金相显微镜
研究级12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM40BD-AF电动研究级材料检测显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM40BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM40BD研究级材料检测显微镜金相分析
研究级材料检测显微镜CM40BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM60BD-AF电动研究及金相显微镜晶圆检测半导体FPD检查
电动研究级材料检测显微镜CM60BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM60BD研究级金相材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM60BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM80BD-AF电动研究级8寸大平台金相显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM80BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM80BD研究级高分子材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM80BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CMD-2010M工具测量显微镜
CMD系列工具显微镜，是一种集软件、光、机、电一体的高精度、高效率的显微测量仪器，是同时具有高精度线性测量和观察功能的多功能量测仪器； CMD-2010M主体机构通过搭配MT三目光学测量镜筒、高清数字相机、照明装置、升降机构及对焦机构，具有多种数据测量、显微放大、显示输入和输出等数据处理功能。
CMM-1010D系列Z轴电动手脉工业测量显微镜
本司新推出的Z軸電動手脈工业測量顯微鏡，使用專業訂制的高精准細分脈衝工业測量電機，通過設置多種脈衝細分量和機構上的精准調校，可以實現快中慢三檔調速來控制Z軸光學鏡頭上下移動
CMY-210Z太阳能单晶硅检测显微镜
CMY-210Z（GP-500）高精度硅片检查显微镜主要用于太阳能板检测显微的观察。太阳能检测显微镜能生产高清晰的图像,立体感较强，成像较清晰视野宽阔，配置有长工作距离物镜，并具有较大的视场范围和相应的放大倍数, 配有高像素的工业相机,可以清晰的看到硅片的”金字塔” 的微观形貌分布情况,及硅片的缺陷分析，是太阳能电池硅片的普遍专用显微镜。
CO-M30上下光源测量、高清拍照显微镜
CO-M30上下光源测量、拍照显微镜，USB2.0接口即插即用，无需外接电源，支持静态，JPG/BMP图像捕捉、色差、对比度、亮度、分辨率可调。
CP-180透射偏光显微镜
偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,可供广大用户进行透射单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验，也可进行液态高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相观察，是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪 。
CP-212型双目透射偏光显微镜
CP-212型双目透射偏光显微镜是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校Zui常用的专业实验仪器。随着光学技术的不断进步，作为光学仪器的偏光显微镜，其应用范围也越来越广阔，许多行业，如化工的化学纤维，半导体工业以及药品检验等等，也广泛地使用偏光显微镜。CP-212透射偏光显微镜就是非常适用的产品，可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存
CP-213型透射数码偏光显微镜
CP-213型透射数码偏光显微镜是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校Zui常用的专业实验仪器。作为光学仪器的偏光显微镜，其应用范围也越来越广阔，许多行业，如化工的化学纤维，半导体工业以及药品检验等，也广泛地使用偏光显微镜。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品。
CP-800透射型高档高精度偏光显微镜
CP-800型高精度偏光显微镜是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校Zui常用的专业实验仪器。高精度偏光显微镜可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影。高精度偏光显微镜配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件还可用于化工化纤、半导体工业以及药品检验等领域。
CPH-200相差显微镜
相衬显微镜又称相差显微镜，针对透明样本因光晕难以被观测到细微结构的问题而开发设计。相差显微镜系列产品以其出色的对比度和齐全的附件，成为生物学实验室仪器的Zui佳选择。相差显微镜结构设计符合人体工程学原理，从而大大减轻了疲劳，适合长时间工作。
CPN-100系列偏光显微镜
CPN-100系列偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器。它在医学上有广泛的用途，如观察齿、骨、头发、及活细胞等的结晶内含物、神经纤维、动物肌肉、植物纤维等的结构细节，分析变性过程。也可以观察无机化学中各种盐类的结晶状况在自然光看不到的精细结构。配有高精度的加热台,主要在教学和实验室.
CPN-213型透射偏光显微镜
CPN-213型透射偏光显微镜是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子等专业Zui常用的专业实验仪器。与光学或者电子显微镜配合使用，在微观上观察期溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。