产品描述
本款三目正置金相显微镜53X适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别,也可用于材料表面的某些特征(划痕、裂纹、喷涂的均匀性),纺织纤维、化学颗粒等方面的研究。总放大倍数:50X-625X

技术参数 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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1、产品的成套件:
2、选购件: 摄影摄像装置、金相分析软件 |
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