磨痕划痕测量分析系统53X-UV
产品描述
磨痕划痕测量分析系统53X-UV,系统配置了高清晰度的显微镜、JVC摄像头和专业的图像测量分析软件UV。可对磨痕划痕进行测量和分析。显微镜放大倍数:50X-625X
图像测量分析软件UV是一款功能强大、性价比极高,也是Zui常使用的专业显微图像测量软件。全中文界面、操作简便、易掌握,可实现图像实时采集、抓取、实时分析、储存、编辑、测量及离线处理,具有通用性和可扩展性
一、系统配置:
二、显微镜参数:
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产品成套性 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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