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　　热循环为确保电子产品德量稳固性和可靠性，或对失效产品进行剖析诊断，一般需进行必要的焊点质量检测。SMT中焊点质量检测办法很多，应当依据不同元器件、不同检测项目等选择不同的检测方法。

　　1 焊点质量检测方式

　　　　焊点质量常用检测方法有非破坏性、破坏性和环境检测3种，见表1所示。

　　　　1.1 目视检测

　　　　目视检测是Zui常用的一种非破坏检测方法，可用万能投影仪或10倍放大镜进行检测。检测速度和精度与检测职员才能有关，评价可依照以下基准进行：

　　　　⑴润湿状况钎料完整笼罩焊盘及引线的钎焊部位，接触角Zui好小于20°，通常以小于30°为标准，Zui大不超过60°。

　　

　　

　　

　　　　⑵焊点外观钎料流动性好，表面完全且平滑光明，无针孔、砂粒、裂纹、桥连和拉尖等渺小缺点。

　　　　⑶钎料量钎焊引线时，钎料轮廓薄且引线轮廓显明可见。

　　　　1.2 电气检测

　　　　电气检测是产品在加载条件下通电，以检测是否满足所请求的规范。它能有效地查出目视检测所不能发明的微小裂纹和桥连等。检测时可应用各种电气丈量仪，检测导通不良及在钎焊进程中引起的元器件热破坏。前者是由渺小裂纹、极细丝的锡蚀和松香粘附等引起，后者是由于过热使元器件失效或助焊剂分解气体引起元器件的腐化和变质等。

　　　　1.3 X-ray 检测

　　　　X-ray检测是应用X射线可穿透物资并在物质中有衰减的特征来发明缺陷，主要检测焊点内部缺陷，如BGA、CSP和FC焊点等。目前X射线装备的X光束斑一般在1-5μm范畴内，不能用来检测亚微米规模内的焊点微小开裂。

　　　　1.4 超声波检测

　　　　超声波检测利用超声波束能透进金属材料的深处，由一截面进入另一截面时，在界面边沿发生反射的特色来检测焊点的缺陷。来自焊点表面的超声波进入金属内部，碰到缺陷及焊点底部时就会发生反射现象，将反射波束收集到荧光屏上形成脉冲波形，根据波形的特色来断定缺陷的位置、大小和性质。超声波检验具有敏锐度高、操作便利、检验速度快、本钱低、对人体无害等长处，但是对缺陷进行定性和定量判定尚存在艰苦。

　　　　扫描超声波显微镜（ C-SAM）重要应用高频超声（ 一般为100MHz以上）在材料不持续的处所界面上反射产生的位相及振幅变更来成像，是用来检测元器件内部的分层、空泛和裂纹等一种有效办法。采用微声像技巧，通过超声换能器把超声脉冲发射到元件封装中，在表面和底板这一深度范畴内，超声反馈回波信号以稍微不同的时光间隔达到转化器，经过处置就得到可视的内部图像，再通过选通回波信号，将成像限制在检测区域，得到缺点图。一般采取频率从100MHz到230MHz，Zui高可达300MHz，检测辨别率也相应进步。

　　　　1.5 机械性损坏检测

　　　　机械性破坏检测是将焊点进行机械性破坏，从它的强度和断裂面来检讨缺陷的。常用的评价指标有拉伸强度、剥离强度和剪切强度。因为对所有的产品进行检测是不可能的，所以只能进行适量的抽检。

　　　　1.6 显微组织检测

　　　　显微组织检测是将焊点切片、研磨、抛光后用显微镜来察看其界面，是一种发明钎料杂质、熔蚀、组织结构、合金层及渺小裂纹的有效办法。焊点裂纹一般呈中心对称散布，因而应尽量可能沿对角线方向制样。显微组织检测和机械性损坏检测一样，不可能对所有的成品进行检测，只能进行适量的抽检。光学显微镜是Zui常用的一种检测仪器，放大倍数一般达10000倍，可以直观的反应材料样品组织形态，但辨别率较低，约20nm。

　　　　1.7 其它几种检测方式

　　　　染色试验荧光渗透剂检测是利用紫外线照耀某些荧光物资产生荧光的特征来检测焊点表面缺陷的方法。检验时先在试件上涂上渗透性很强的荧光油液，停留5~10min，然后除净表面过剩的荧光液，这样只有在缺陷里存在荧光液。接着在焊点表面撒一层氧化镁粉末，振动数下，在缺陷处的氧化镁被荧光油液渗透，并有一部分渗透缺陷内腔，然后把过剩的粉末吹掉。在暗室里用紫外线照耀，留在缺陷处的荧光物质就会发出照亮的荧光，显示有缺陷。磁粉检测是应用磁粉检测漏磁的方法，检测时利用一种含有细磁粉的薄膜胶片，记载钎焊焊点中的质量变化情形。使用后的几分钟内，胶片凝固并把磁粉“ 凝结”在必定的地位上，就可以察看被检测试件上的磁粉分布图形，断定是否有缺陷。由于大多数钎料是非磁性的，因此不常用于钎焊焊点的检验。

　　　　化学分析方法可丈量样品的均匀成分，并能达到很高精度，但不能给出元素分布情况。染色与渗透检测技巧（D&PT）是通过高渗透性高着色性染料渗透到焊点开裂区域，然后拉开焊点，观测焊点内部开裂水平和分布。试验时必需警惕把持拉断器件时的外力，以保证焊点持续沿预开裂区域断开。

　　　　X-ray衍射（XRD）是通过X-ray在晶体中的衍射现象来剖析晶体结构、晶格参数、缺点、不同结构相的含量及内应力的方法，它是树立在必定晶格结构模型基本上的间接方法。

　　　　电子显微镜（EM）是用高能电子束做光源，用磁场作透镜制造的电子光学仪器，主要包括扫描电子显微镜（SEM）， 透射电子显微镜（TEM），电子探针显微镜（EPMA）和扫描透射电子显微镜（STEM）。其中SEM用来视察样品表面形貌，TEM用来察看样品内部组织形态和结构，EPMA用来断定样品微观区域化学成分，STEM具有SEM和TEM的双层功效。此外，红外热相（IRTI）分析、激光全息照相法和实时射线照相法等也可用于焊点质量检测。表2为不同分析项目标一些主要分析方法。

　　2 加载检测及可靠性评价

　　　　产品失效主要原因包含温度、湿度、振动和灰尘等，各占比例为55%、19%、20%和6%。加载检测是每一个部件在适用条件下进行加载以检测其动作状态，方法有振动检测、冲击检测、热循环检测、加速度检测和耐压检测等，一般依据适用条件把它们组合起来进行，且要求对每一个成品进行检测。这种方法Zui为严厉，可靠性高，只有航天产品等可靠性要求特殊严厉的情况下才予以采用。

　　

　　

　　

　　　　近年来国际上采用一种全新的焊点可靠性评估方法，即等温加速扭转循环法（MDS），通过在必定温度下周期扭转全部印刷电路板来考核焊点的可靠性。该方法在焊点内产生的应力以剪切应力为主，和温度循环类似，因而失效模式和机理极为类似，但试验周期却可从温度循环的几个月减少到几天。该方法不但可以用来快速评估焊点可靠性，同时也可以用来进行快速设计和工艺参数优化。

　　　　可靠性评价分类见表3。迁移是金属材料在环境下化学反映形成的表面侵蚀现象，其生长过程分为阳极溶解、离子迁移和阴极还原，即金属电极正极溶解、移动，在负极析出导致短路。迁移的发生形态常称为Dendrite和CAF（见图1）。Dendrite指迁移使金属在PCB的尽缘部表面析出，或者是形成树枝状的氧化物；CAF指金属顺着印制板内部的玻璃纤维析出，或者使氧化物作纤维状的延长。

　　

　　

　　

　　　　金属离子的指标可用尺度电极电位Eo来表现，其中Sn比Pb和Cu稳固，能形成维护性高的纯态氧化膜，克制阳极溶解。电极电位的大小不仅取决于电对的天性，还与加入电极反响的各种物资的浓度有关。对于大多数电对来说，由于（H+ 或OH-）直接参与了电极反映，因此电极电位还与pH值有关：pH值越高，电极电位越小。另外，助焊剂残留假如不清洗清洁，一些腐蚀性、活性元素（如Cl）会使电迁移更强，影响电路可靠性。所以，目前常用免清洗助焊剂严厉把持其活性和组份。

　　3 热循环加速试验

　　　　热循环失效是指焊点在热循环或功率循环进程中，由于芯片载体材料和基础材料存在显明的热膨胀系数（CTE）差别所导致的蠕变,疲劳失效。通常SMT中芯片载体材料为陶瓷（Al2O3），CTE为6.0x10-6/℃，基板资料为环氧树脂/玻璃纤维复合板（FR4），CTE为20.0x10-6/℃，二者相差3倍以上。当环境温度产生变更或元件本身通电发热时，由于二者间CTE差别，在焊点内部就发生周期性变化的应力应变过程，从而导致焊点的失效。

　　　　IPC-9701尺度化了五种试验条件下的热循环实验方式，从良性的TC1参考循环条件到恶劣的TC4条件，符合及格请求的热循环数（NTC）从NTC-A变更到NTC-E（见表4）。

　　

　　

　　

　　　　失效循环次数可用一个简略修改的Coffin-Manson数模来猜测，并可以加速获得热循环测试成果。Coffin-Manson数模是关于热应力引起的低循环疲劳对微电路和半导体封装可靠性影响进行建模的有效方法，表达式为：

　　

　　

　　

　　　　其中：Nf为疲劳失效循环数，A为常数，εp为每个循环的应变范畴，f为循环频率，K为波尔兹曼常数（eV），Tmax为Zui高循环温度（K）。

　　　　IPC-9701应用Engelmaier-wild焊点失效模型来评估加速因子AF(循环数)和AF(时光)。AF(循环数)与焊点的循环疲劳寿命有关，是在给定使用环境中产品寿命的实验中获得，可表现为：

　　

　　

　　

　　　　其中：AF为加速因子，Nfield为现场循环数，Nlab为试验循环数，ffield为现场循环频率，flab为试验循环频率，△Tfield为现场温度变化，△Tlab为试验温度变化，Tfield-max为现场Zui高温度，Tlab-max为试验Zui高温度。AF（时间）与焊点失效的时光有关，是在给定的使用环境中产品寿命的实验中获得，可表现为：

　　AF（时间）=AF（循环数）×[(ffield/flab)　(3)

　　　　设计试验时，在芯片和PCB内引进菊花链结构使得组装后的焊点形成网络，通过检测网络通断来判定焊点是否失效。一般须要采取高速持续计划，在纳秒级内连续高速采样，以保证及时正确探测到焊点的开裂。评价时常依据某一恒定的金属界面上电位降或电阻变化来断定焊点的质量，一般电阻增添150~225Ω?ms，就可断定为电性能失效，测得的电阻值超过阀值电阻1000 Ω，就以为是开路。

　　　　意的是，雷同高温温差引起的损坏水平比低温要大，高温变率条件下失效循环次数比低温变率条件下失效循环次数要低，这对其它温度规模和温变率的猜测供给了更守旧的失效周期，起到加速试验的后果。但在快速温变条件下如果转变了失效机理，焊点特点值的变化就不可能真实地反响大多数现场利用情况。此外，Reza Ghaffarian还发现失效应力条件可从全局改变为局部，比如小型化封装易出现从焊接接合点到封装组装一侧的失效转移，这就要求树立准确的的失效模型，否则会导致过错的失效循环次数猜测结果。

　　一般规定热循环可接收指标为：-40~150℃，800~1000次循环未失效即可。这些基于和实际现场使用条件相应的模仿成果的指标有很大的安全余量，对于大多数产品来讲，300次循环就已足够。

　　4 焊点失效机理

　　　　4.1 工艺方面

　　　　4.1.1 热应力与热冲击

　　　　钎焊过程中快速冷热变化，对元件造成暂时的温度差，使元件承受热机械力，导致元件的陶瓷与玻璃部分产生应力裂纹，成为影响焊点长期可靠性的不利因素。钎料固化后，PCB由高温降到室温，由于PCB和元件间cte不同，有时也会导致陶瓷元件决裂。PCB的玻璃转化温度（Tg）一般在室平和180℃之间。焊后钎焊面被强迫冷却，PCB两面就会在同一时刻处于不同的温度，导致钎焊面在玻璃转化温度以上时出现PCB翘曲现象（ 容许有3°-5°翘曲），从而侵害元器件。基板与元件之间CTE不同，也会造成元件的破裂或焊点裂纹（ 元件不够就要焊点来接收过剩的变形）。

　　　　4.1.2 金属溶解

　　　　在电路组装中，经常出现蚀金蚀银现象。这是由于钎料中的锡与镀金/银引脚中的金/银会形成化合物，导致焊点可靠性下降。钎料从钎焊温度冷却到固态温度期间，有溶解的金属析出，在钎料基体内形成脆性的金属化合物。铜天生针状的Cu6Sn5，银生成扁平的Ag3Sn，金天生AgSn4立方体。这些化合物非常脆，剪切强度极低，元件极易脱落。如果金/银含量少，生成的化合物量未几，对焊点的机械性能不会造成太大的侵害，但是含量较多时，钎料会变得易碎。

　　　　4.1.3 基板和元件过热

　　　　各种材料塑性一般在钎焊温度时是不稳固的，常呈现基板剥离和褪色现象。纸基酚醛树脂常发生剥离，适于红外再流焊，而FR-4（环氧玻璃基板）在红外再流焊中经常变色。

　　　　“ 爆米花”现象常出现在大芯片IC中。IC塑料封装极易吸潮，加热时潮气就会开释出来并气化，再流焊时在芯片底部的单薄界面处累积成一个气泡，封装受到气泡的压力发生开裂。这一现象与湿润量、芯片的尺寸、芯片下的塑料厚度和塑料封装与芯片之间的粘合质量有关。目前解决的计划就是先烘干IC，然后密封保留并坚持干燥；或者在使用前几小时进行100℃以上的预先烘烤。在波峰焊中，一般不会发生“ 爆米花”现象。

　　　　4.1.4 超声波清洗侵害

　　　　超声波清洗对于肃清PCB表面残留助焊剂很有效，其毛病是受超声波功率大小的节制，太小则不起作用，太大则会破坏PCB及元件。超声波清洗有可能造成的两种破坏结果：小液滴对表面的碰撞像喷沙，相似表面风化；在清洗槽内，陶瓷基板受到超声负载鼓励而浮现共谐振动，产生周期性弯曲而发生疲劳断裂。

　　　　4.1.5 装卸和移动

　　　　电子产品从元器件装配、电路组装、钎焊直到成品的运输和应用的全部寿命周期内，可能会蒙受由于机械负载引起的各种振动和冲击。例如引起片装电容器发生决裂的一个常见原因就是PCB板的曲折。从很紧的夹具中把PCB板取出时就会呈现这种情形。

　　　　4.2 制作方面

　　　　4.2.1 机械应力

　　　　由于PCB板的曲折附加给焊点和元器件过量的应力，产生焊点质量问题重要包含3个方面：

　　　　(1)大通孔元件焊点所受应力易超过屈从极限。假如PCB板上有比拟重的元件（如变压器），应当选择夹具支持；

　　　　(2) 无引线陶瓷元件易发生断裂。当片式元件从多层板上分别时，元件产生断裂的危险性相当高，故Zui好不要将片式阻容元件放在易曲折的处所；

　　　　(3) IC器件上也会发生焊点断裂。鸥翼形引线在板平面方向是柔性的，但在板垂直方向是刚性的，假如带有大的细间距IC的PCB发生翘曲而没有支持，或由于不准确的夹具而形成机械负载，就会对焊点造成要挟。

　　4.2.2 运输振动

　　　　焊点外形圆而光滑，没有应力集中尖角，振动负载一般不会损坏焊点，却会损坏引线，特殊是重元件和只有少量（ 2或3根）长的排成一列的柔性引线元件（ 比如大的电解电容）易遭遇振动，导致元件引线发生疲劳断裂。

　　4.2.3 机械冲击

　　　　通孔插装焊点具有良好的体积和外形，焊点受机械冲击时一般不会损坏，但钎焊构造其它部分会产生失效，如大而重的有引线元件，受机械冲击后发生的大惯性力引起!"# 板上覆铜剥离或板断裂，进而破坏元件本身。所以要求大而重的元件必需有足够的机械支持固定，且请求引线有柔性。

　　　　表面组装焊点比通孔插装焊点小的多，且引线不穿过电路板，焊点机械强度较小，更易受到冲击破坏的危险，应从钎焊资料和工艺进手，比如使焊膏在钎焊时不易形成焊球，助焊剂残留物易于肃清，焊膏用量要恰当等。

　　4.2.4 老化

　　　　实际利用中，电子电路会蒙受各种各样的负载，包含空气环境（ 如湿润、污染的气体和蒸汽），烟雾（ 汽车尾气），温度，机械负载等，造成以下成果：化学和电化学腐蚀，板析的退化，钎料中锡与钎焊合金之间合金层的生长，由弹性塑性变形产生蠕变断裂及热机械疲劳。

　　　　基板材料在温度升高时会发生老化，温度越高老化越快。基板失效尺度是：弹性强度减半，即当弹性强度减半时，材料已老化失效。基板使用温度的Zui高容许值取决于产品的“ 运行”时间。对电子电路来说，持续运行时间为105，使用温度把持在80~100℃。

　　4.2.5 电化学腐蚀

　　　　在湿润和有偏置电压的情形下，金属迁移和腐化很易发生。所有钎焊金属都可能发生迁移，银是Zui敏感的。空气污染所致的电化学腐化危险性很小，但碰到含硫气体时，气体中的硫会与焊点上的银反映，天生Ag3S而下降焊点可靠性。

　　4.2.6 合金层

　　　合金层不仅在钎焊进程中形成，而且在后置放置过程中也会增厚。金属间化合物一般比拟硬而脆，厚度不适对焊点可靠性不利，一般有3点要注意：

　　　　(1)软合金层将导致焊点决裂，特殊轻易发生在含金的钎料中；

　　　　(2) 全部薄层合金的变化将导致粘附力的下降或电接触的老化；

　　　　(3) 钎焊金属与合金层之间的界面处涌现钎焊金属的伴生物，如铜2锡合金层之间涌现的SnO2。

　　4.2.7 蠕变断裂

　　　　材料在长时间恒温、恒压下，即使应力没有到达屈从强度，也会慢慢产生塑性变形的现象称为蠕变，由蠕变引起的断裂叫做蠕变断裂。一般来讲，当温度超过材料熔点温度的0.3倍以上时，才会呈现显明的蠕变。

　　5 提高焊点可靠性方法

　　　　影响焊点质量的因素有很多，包括机械负载、热冲击、装卸和移动造成的破坏和老化等方面的原因。操作时应当采用相干办法来保证焊点质量，包括温度循环负载要小，元件要小，PCB的CTE要小，采用柔性引线，尽量不要装配大而重的元件，通孔与引线配合应紧密但不要太紧，焊点尺寸和形状要恰当。另外，PCB板装配应保证在板程度方向能自由移动，否则周期性的弯曲会破坏大元件的焊点；通过优化两个特征：疲劳屈从点和蠕变阻抗，使钎料合金的疲劳寿命到达Zui大值。

　　　　改良SMT焊点的可靠性，提高其服役寿命是一个非常庞杂的问题，它涉及到材料学、新工艺、新技巧的开发等众多范畴。

　　　　5.1 设计高可靠性焊点几何构造

　　　　焊点的大小及外形不同，其承载才能就不同，不同的几何构造将使焊点在承载时内部的应力散布不同，其应变水平也不同。因而焊点的几何结构直接关系到热循环寿命。

　　　　N.Brady等人考核了625mm间距的QFPL型引线焊点形态对强度的影响，得到如下经验公式：

　　

　　

　　

　　　　其中：Xi(i=1,2,3,4,5)是焊点形态参数，如图2所示。

　　

　　

　　

　　　　W.M sherry 等人对84 I/O非城堡型LCCC焊点的剪切性能进行了试验研讨，成果表明：A、B、C 3种焊点形态（见图3），其剪切性能不同，" 形焊点在室温下的剪切性能Zui好。此外，焊点形态对剪切破断地位也有影响：A形焊点，剪切破断发生于钎料与陶瓷界面四周，B形和C形焊点，剪切破断则发生于钎料与基板界面邻近。

　　

　　

　　

　　　　王国忠博士对带有边堡的无引线SMT焊点形态问题进行了具体的理论剖析和试验研讨，得到了焊盘伸出长度、间隙高度和钎料量变化所造成的焊点形状变化与其热循环的关系，指出平型或微凸点的热循环寿命是Zui高的，大约是凹型焊点寿命的5倍（图4），并且不同形态的焊点，其断裂所发生的地位也不同（图5）。

　　

　　

　　

　　　　焊点失效时，剪切断口一般位于PCB焊盘或集成块基底焊盘与焊球之间，弯曲疲劳和热冲击疲劳开裂部位一般位于PBGA集成块Zui边沿处的某一焊球，而断口一般位于PCB焊盘与焊球之间，而不是集成块基底焊盘与焊球之间。这是由于焊球与PCB焊盘联合部位截面尺寸变化较大，为应力集中处，而且这一部位形成了金属间化合物（IMC）而导致接协力懦弱。对于CBGA，开裂部分一般不会涌现在焊球上。

　　增大焊盘尺寸可进步可靠性，一个大的焊盘增添了蒙受负载的面积，也增大了形成失效缩需的裂纹传布长度。弯曲疲劳试验中，Zui可靠的组合是在元件上采用小焊盘，而在PCB侧采取大焊盘。热循环疲劳试验中，Zui可靠的组合是在元件上采用大焊盘，而在PCB侧采用小焊盘。此外，焊盘直径对焊点形状影响很大，直径越大，高度越低。由于集成块尺寸不变，所以焊点轮廓变化趋势由灯笼形变为圆锥形，且有向里凹的可能。设计PBGA焊接工艺的一个参考原则是：尽量让焊球两边的焊点到达Zui佳配合。当DpD0接近1，为灯笼状，剪切拉伸时高低一致，都有可能被撕裂，且试验板有Zui大剪切强度，弯曲疲劳和热冲击疲劳寿命也Zui高，见图6。

　　焊盘四周阻焊层对可靠性也会造成很大影响，一般其启齿直径大于焊盘直径时，焊点平滑地与焊盘焊牢没有形成尖角，可靠性就高。

　　

　　

　　

　　　　5.2 研制高可靠性软钎料

　　　　SMT焊点失效是特定载荷条件下钎料的蠕变.疲劳断裂问题，因此钎料性能对焊点可靠性有决议性的影响，研制高可靠性钎料对提高SMT焊点的可靠性、推进SMT的普遍利用无疑具有主要的意义。表5给出了不同成分的软钎料的焊点循环寿命与SnPb共晶钎料的相对照较结果。可以看出：SnAg软钎料热循环寿命很高，但是含Ag 4%本钱高，且熔点升高（232℃），不易为现行的各种表面组装工艺所接收，因而运用受到了限制。

　　

　　

　　

　　　　微量Ce-La混杂稀土的参加就可以起到细化晶粒，强化晶界，提高晶内抗变形才能的作用，热疲劳寿命可提高3倍，且改性后工艺性能无变化。

　　　　5.3 开发热膨胀系数（CTE）匹配资料

　　　　基板和芯片载体材料间CTE差别是热循环过程中应力产生的重要原因，因而研制新型基板和芯片载体材料，使其热膨胀系数相匹配，就可减小应力幅值，改良焊点受力状况，体视显微镜，进而进步焊点的可靠性。但CTE匹配后，仍不能完整打消应力差异，由于在功率循环过程中，各处的温度不同，温度散布的庞杂性，必定导致单纯依附CTE 匹配就不能满足多种要求。


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