CM40BD研究级材料检测显微镜金相分析
研究级材料检测显微镜CM40BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM60BD-AF电动研究及金相显微镜晶圆检测半导体FPD检查
电动研究级材料检测显微镜CM60BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM60BD研究级金相材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM60BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM80BD-AF电动研究级8寸大平台金相显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM80BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM80BD研究级高分子材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM80BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
MX8R系列DIC微分干涉金相显微镜工业检测显微镜
MX8R三目明暗场微分干涉工业检测显微镜配置了落射与透射照明系统、明暗场半复消金相物镜、内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，配备了高性能DIC组件，可以将明场观察下无法检测的细微高低差，转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕新式表现出来，广泛用于LCD导电粒子，精密磁盘表面划痕检测等领域
VM3600I科研级无限远倒置金相显微镜
科研级三目倒置金相显微镜VM3600I采用优良的无限远半复消色差光学系统60mm多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置，并可选配暗场装置、DIC微分干涉装置实现暗场和微分干涉等特殊观察。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。
TZ-650D同轴光视频显微显微镜
TZ650D高分辨率单筒镜头采用积木式结构，平行光路光学系统，可选配不同倍率的CCD接口和辅助物镜满足不同倍率，视野和工作距离的需求。高分辨率、高对比度成像。重复定位精度高，重复精度可达1um。可选配LED照明或光纤照明可观察不同的样品，可以满足客户多方面的要求，广泛应用于电气设备、半导体、LCD、LED观察检测等
CM120BD研究级12寸大平台半导体芯片晶圆检查LCD检查金相显微镜
研究级12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM120BD-AF研究级电动12寸大平台金相显微镜半导体芯片/晶圆/LCD检查
研究级电动12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节，12寸大工作平台特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
TZ650E高清同轴光金相显微镜
TZ650E视频连续变倍同轴光显微镜采用平行光路光学系统，使用点光源以确保光线的平行性，平行光路配合无限远物镜有助于获得清晰的显微图像。搭配索尼芯片1200万像素相机，USB3.0接电脑输出可测量拍照录像等图片分析（可以根据需求选配HDMI、USB、WiFi、网口输出的相机）。设备小巧便捷可以根据现场要求定制不同的观测工作方式，适用于材料科学金属和合金分析、聚合物研究；电子行业半导体制造、光学元件检测；教育与研究。
TZF650D专业同轴光电子显微镜
TZF650D视频连续变倍同轴光显微镜采用平行光路光学系统，使用点光源以确保光线的平行性，平行光路配合无限远物镜有助于获得清晰的显微图像。搭配高清4K 830万像素相机60FPS输出帧率，HDMI2.0、USB3.0、USB2.0、千兆网多种输出方式，可测量拍照录像等图片分析。设备小巧便捷可以根据现场要求定制不同的观测工作方式，适用于材料科学金属和合金分析、聚合物研究；电子行业半导体制造、光学元件检测；教育与研究。
TZF650DA视频连续变倍同轴光显微镜
TZF650DA视频连续变倍同轴光显微镜采用平行光路光学系统，使用点光源以确保光线的平行性，平行光路配合APO物镜有助于获得清晰的显微图像。搭配高清4K830万像素相机60FPS输出帧率，HDMI2.0、USB3.0、USB2.0、千兆网多种输出方式，可测量拍照录像等图片分析。设备小巧便捷可以根据现场要求定制不同的观测工作方式，适用于材料科学金属和合金分析、聚合物研究；电子行业半导体制造、光学元件检测；教育与研究。
VM2400I编码型倒置金相显微镜带亮度记忆
三目倒置编码金相显微镜VM2400I配置长距明场平场消色差物镜与大视野平场目镜，照明系统采用LED照明方式，视场照明均匀。主要用于鉴定和分析金属内部结构组织，或用于观察材料表面的某些特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等，简单便于理解操作。应用在工厂、实验室和教学及科学领域，是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。可观察5公斤以下不规则样品或者大体积高度样品，可选配数码相机成像、可与金相分析软件配合根据试样特性国标出金相分析报告。
CL-CM40BD颗粒大小分析设备
CL-CM40BD自动清洁度颗粒污染分析设备是采用光学显微镜测定颗粒清洁度、颗粒污染度的专业仪器。高精度电动平台，自动化分析软件，高清图像扫描相机，具有自动化高、工作流程化设计模式，操作简便，采集图像快速高效，无缝拼接浏览，智能识别统计，按照选择标准生成结果及报告。针对在制造和装配过程中的颗粒污染物残留，检查电路板电子元件、检测航空航天部件、汽车零部件、食品加工设备和环境中的微生物和残留物。也适用于油品清洁度检测，润滑油清洁度颗粒检测，乳化液清洁度检测，防冻液清洁度检测颗粒检测。
DMS1000系列3D超景深数码显微系统
3D超景深数码显微镜DMS1000是一款集电动化、数码化、智能化为一体，拥有全方位的观测角度和多种照明方式，其更大的景深、更宽的视野以及更高的放大倍率，让表面微观形貌观察和分析工作更快捷方便，搭载自主研发的图像处理算法，能够轻松应对各种观测应用场景，确保图像的清晰度和量测数据的准确性。
ATE-25三维立体数码显微镜
一、产品概述 ATE-25三维数码视频显微镜基于无限远光学系统，0.6-5.0X 连续变倍主体，0.5XC接口，工作距离86mm。配备1/2” SONY CMOS图像传感器相机，1920*1080分辨率。可广泛应用于微电子、精密电子、精密五金件、深孔壁、生命科学、动植物形态、刑侦鉴定等等行业
VMS171A-4KR三目连续变倍体视显微镜上下光源4K高清输出
VMS171A-4KR高清4K连续变倍体视显微镜广泛用于教学示范、生物解剖、农林业的种子检查筛选、公安部门的刑侦检测，电子精密部件装配检修，纺织业的品质控制、 文物邮票的辅助鉴别及各种物质表面观察。
VMS171A高清三目连续变倍体视显微镜
VMS171A三目连续变倍体视显微镜采用LED上下光源，具有高分辨率，高清晰度和强立体感等特点，并且可连续变倍。创新推拉式三通切换拉杆，定格定倍机构以及倍率限位功能设计，进一步缓和了使用者长时间操作带来的疲劳感，符合人机工程学原理。广泛用于教学示范、生物解剖、农林业的种子检查筛选、公安部门的刑侦检测，电子精密部件装配检修，纺织业的品质控制、 文物邮票的辅助鉴别及各种物质表面观察。
VMS0745H4K高清4K电子显微镜数码体视
VMS0756H4K是连续变倍连续变倍镜头显微镜主体、4KHDMI相机和10英寸的显示器（选配其他尺寸显示器）、LED环形光源组成。立体显微镜操作方便、直观、检定效率高,适用于电子工业生产线的检验、印刷线路板的检定、印刷电路组件中出现的焊接缺陷（印刷错位、塌边等）的检定、单板PC的检定、真空荧光显示屏VFD的检定等等，立体显微镜将实物的图像放大后显示在计算机的屏幕上，可以将图片编辑、保存和打印。配测量软件可以测量各种数据。
DTE-25 电动360度旋转3D显微镜
具有较长的工作距离，宽阔的视野，高清晰度的成像质量。支持2D,3D两种观察方式，实时图像观察，360°旋转观察，使单侧物体易于全方位观察，呈现多方位，更真实立体。主要应用于电子元器件、精密五金、深孔壁、生物科学、动植物形态、刑侦鉴定等行业。适合传统2D显微镜下不易观察到的三维立体图像，珠宝行业检验和学校示教使用。
VMS270AH高精度体视显微温控仪
VMS270AH体视显微温控仪由VMS270A连续变倍体视显微镜搭配精密透明恒温热台AH187组成。本仪器专门用于对无色透明试样的观察，尤其适用于水域原生动物、线虫、生殖细胞专用等领域。恒温热台采用光学级透明发热玻璃，发热均匀，耐磨且具有高透光性，完全不影响观察。
VMS280AH体视显微温控仪
VMS280AH体视显微温控仪由VMS280A连续变倍体视显微镜搭配精密透明恒温热台AH187组成。本仪器专门用于对无色透明试样的观察，尤其适用于水域原生动物、线虫、生殖细胞专用等领域。恒温热台采用光学级透明发热玻璃，发热均匀，耐磨且具有高透光性，完全不影响观察。
VMS260AH高精度透明恒温热台体视温控仪
VMS260AH体视显微温控仪由VMS260A连续变倍体视显微镜搭配精密透明恒温热台AH187组成。本仪器专门用于对无色透明试样的观察，尤其适用于水域原生动物、线虫、生殖细胞专用等领域。恒温热台采用光学级透明发热玻璃，发热均匀，耐磨且具有高透光性，完全不影响观察。