Dimension V 扫描探针显微镜
Dimension V 扫描探针显微镜 （SPM） 在同一套系统上实现原子力显微技术（AFM） 和扫描隧道显微技术（STM），可以广泛应用于半导体晶圆表面特征测量、刻蚀掩膜、磁介质、CD/DVD 检测、生物材料、光学以及其它领域大直径样品（直径可达200mm）。其激光调节系统以及无需额外工具切换扫描技术的能力确保该系统广泛的适用范围、简单的使用方式以及科研产出能力。
Dimension V 系统基于若干成熟技术：Dimension 架构、先进的 Hybrid XYZ 扫描器以及Zui新的 NanoScope V 控制器，因而成为卓越的高分辨成像显微镜、高精度的纳米刻蚀手段以及Zui直观的纳米尺度操纵工具。该系统的Hybrid XYZ扫描器将系统噪音降低6倍，同时，其拥有高精度的X/Y控制以确保分子级的纳米操纵；拥有准确的三向闭环控制尤其适合于分子生物"拉伸"技术。
该系统集成的全新 NanoScope V 控制器确保了可靠、高速的数据采集能力，采集空间可达 5000×5000 的高象素密度。因而研究人员可以在之前的 SPM 技术中是无法实现的时间分辨内记录和分析针尖——样品相互作用。这种划时代的控制器设计允许同时采集和显示多达8 个通道的图形和数据；支持强大的软件功能性和通用性；支持Easy－AFM这简约的图形化用户界面软件，尤其适合于初学者以及经常重复同一模式、同一类操作的用户。
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