WITec，在纳米分析显微镜系统的全球领导者，推出了新的真正的表面显微选项。这一革命性的成像模式的核心要素，是一个集成光学轮廓传感器。从轮廓测量大面积的地形坐标可以精确地与大面积共焦拉曼成像数据。这使得首次焦严重倾斜或很粗糙，沿在不断关注的焦点，同时保持Zui高confocality真正的表面样品的拉曼成像。随着新的成像模式，原先需要大量的准备，以获得一定的表面平整度的样品现在可以毫不费力地和自动的特点，因为它们是。 WITec控制和WITec项目软件环境都集成在完整的系统控制，以及广泛的数据评估，保证知名的易于使用。
奥拉夫Hollricher，WITec董事总经理R＆D博士说：“”集成光学轮廓和大面积共焦拉曼成像结合尖端的显微镜配置中的下一个进化飞跃。 “只有一个固有的模块化仪器设计，可以使这样的一个突破性的和互补的成像技术的无缝纳入到目前的产品线拉曼AFM系统。”
真正的表面成像模式的轮廓能力允许与空间分辨率为100 nm垂直和10微米横向的顺序扫描范围可达50x100毫米。测量距离为10毫米和多变量样本大小要求提供的灵活性。结合原子力显微镜，轮廓甚至可以被用来作为预检测工具，高分辨率的原子力显微镜对大样本的调查，以确定利益的地形特点。对许多应用，包括微机械，医疗，半导体器件的特性，功能化表面的映射，或生物医学或医药材料的表面特性的成像有利的整体性能和极其精确的成像能力，真正的表面显微镜。
本文地址:https://www.optical17.com/news/1478.html
出自: 显微镜报价网 转载时请标明出处.