型号：Kestrel 200
放大倍率选配件：x10倍、x20倍*、x50倍
底部光照明装置：30瓦，底部光
测量范围：X 150毫米 Y 100毫米
平台玻璃Zui大负荷：10公斤
译码器分辨率：1.0μm
产品描述：Kestrel优异的光学成像甚至能在反差小的元器件上测量到难以观察的形状，例如黑色的或透明的塑料 Kestrel二坐标测量系统 - 综述 英国工业显微镜有限公司的Kestrel 200光学测量显微镜为精密元器部件，提供快捷和精确的2-坐标测量。
从简单的手工、单一特性作业至较复杂的元器部件测量，Kestrel 200把高分辨率、高对比度光学成像与直观的微处理器相结合，为广泛的测量应用，提供准确性和简易性。Kestrel优异的光学成像甚至能在反差小的元器件上测量到难以观察的形状，例如黑色的或透明的塑料。
- 2-坐标非接触式测量
- 专利的光学成像明确地辨别轮廓，提供卓越的分辨率和对比度
- 强劲和直观的微处理器给予简易的、快捷的测量结果
- 成像采集选配件高精度，低投资系统
测量不确定性 |
不确定性公式U952D = 7+(6.5L/1000)μm，其中L = 长度(mm)，在标准测量平面使用受控条件 – 使用放大倍率100倍。 缩短测量长度可获得更高的准确性。 |
光学 |
专利的双光瞳单视场可不断地矫正光学系统，十字坐标线有助于双眼观察。
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放大倍率选配（系统集成） |
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测量平台 |
精密测量平台，并通过非线性误差修正（NLEC）方法对平台进行出厂前的规定校准。 |
测量范围(X, Y) |
150毫米 x 100毫米（Zui大载荷10公斤） |
高度调整 |
高度调整范围100毫米。 |
编码器分辨率 |
X = 1μm Y = 1μm |
照明装置 |
双半同轴聚光灯或冷光、经矫正的色温LED表面光照明。
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