X6系列显微熔点测定仪
数 字显微熔点测定仪广泛适用于高分子材料、化工、制药、涂料、橡胶等行业的化验、样品检测及大专院校、科研所、化学、化工等专业的教学实验及科学研究。本产 品能够进行有机单晶、共晶物质的形态分析，观察晶体的熔点温度，研究物质的三态转化及形变、色变。为工程材料、固体物理等领域的教学和科研提供实用高效的 手段。
X6系列数字熔点测定仪温度测量部分采用高稳定度和高线性温度传感器，信号放大与A/D转换电路，产品还采用了智能化PID测温、控温和信号处理技术，仪器操作简便，运行稳定可靠。观察部分采用体视显微镜，具有大视场、长工作距倍率可变、立体感强的特点，而体视显微镜又可单独使用。
X6系列技术参数：
测温方式：温度传感器温度值LED数显，自动打印，自动或手动控温
测量范围：室温-320°
测量确度：＜±0.5度
工作距离：108mm
放大倍率：7X—45X
显 微 镜：连续变倍体视显微镜
试样用量：<1mg/次
测量误差：全量程±0.5%
产品配置：
X6A：标准配置加20X目镜和LR01环型荧光灯。
X6-MI：三目连续变倍体视显微镜，高清晰彩色摄像头、专业材料分析软件与电脑连接，通过计算机实现实时控制，在线修改，图像管理、存储、测量、统计、输出等功能。
X5系列技术参数：
测温方式：温度传感器，温度值LED数显，设定上下限报警，自动控温
测量范围：室温~320°
测量确度：＜±0.5度
工作距离：110mm
放大倍率：20×—40×
显 微 镜：两档变倍体视镜
试样用量：＜1mg/次
测量误差：全量程±0.5%
X4系列技术参数：
测温方式：温度传感器，温度值LED数显，手动控温
测量范围：室温~320°
测量精度：＜±1度
工作距离：110mm
放大倍率：20×—40×
显 微 镜：两档变倍体视镜
试样用量：＜1mg/次
测量误差：全量程±1%
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