是否与你的样品工作比只是表面成像覆盖的更多信息?你也想??知道有关的化学成分或样品的形态?你关于深入三维体积特征珍玩?或者你甚至打算修改或处理您的样品吗?
AURIGA ®新的横梁®工作站从卡尔蔡司SMT(FIB - SEM)正好提供了这一切 - 在纳米级的规模。 AURIGA ®使用Zui佳的FIB列和专有双子座电子束从卡尔蔡司列,连同一个完全新的先进的分析设计的真空室,协助您获得Zui大的信息可能出样品的。
独特的成像
非导电性标本与当地负责赔偿使用所有标准的探测器成像
地形和成分的信息,具有独特的探测器计划,包括ESB技术的同时检测
双子座的磁性样本调查®物镜设计
高级分析
非导电材料的分析与当地负责赔偿
多用途室,15个附件端口
同时整合EDS,EBSD技术,茎,WDS,SIMS等的优化腔几何
精密加工
创新的FIB技术与Zui佳的分辨率(<2.5 nm的)
高分辨率生活FE - SEM监测的整个筹备过程中
先进的气体离子和电子束辅助刻蚀和沉积的加工技术
未来的保证
基于双子座® FE - SEM技术的可扩展的平台概念
增值functionalit模块化积木
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