XPL-40矿相分析偏光显微镜
XPL-40矿相分析偏光显微镜

XPL-40矿相分析偏光显微镜

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品牌
MicroDemo
产品编号
1380
产品型号
XPL-40矿相分析偏光显微镜
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产品用途

XPL-40配置无应力平场物镜,成像质量更胜一筹;该仪器利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,可供广大用户作单偏光观察、正交偏光观察、锥光观察以及显微摄影;同时配置有石膏λ片、云母λ/4片、石英契子和移动尺等附件,是一组具有较完备功能的新型产品。在许多行业,如化工化纤、半导体工业以及药品检验等广泛应用。

产品规格

规格参数 XPL-40
光路系统 有限远 160mm机械筒长
观察头 铰链式双目头、30°倾斜、视度可调
三目头、30°倾斜、视度可调、可100%通光摄影  
目镜 WF10X(Φ18mm)/WF10X分划目镜
无应力平场消色差物镜(无盖玻片) 倍率 数值孔径(N.A.) 工作距离(W.D.)
0.1 19.8
10× 0.25 8.8
40×(S) 0.6 3.73
60×(S) 0.75 1.34
放大倍数 40×-600×
物镜转轮 四孔物镜转换器
载物台 360˚旋转式载物台(直径:Φ150mm),中心可调,带锁紧装置,游标格值6
调焦机构 粗、微动同轴调焦机构,带锁紧和限位装置
 微动格值0.002mm、调焦范围30mm
偏光装置 可360˚旋转起偏器,有0、90、180、270四个读数、推拉式检偏器
补偿器 石膏λ片、云母λ/4片、石英锲子
中间接筒 内置检偏器, 可自由切换正常观察与偏光观察,可360°偏振方向旋转,带刻度,游标格值12、推入式勃氏镜,中心可调
照明系统 聚光镜NA.1.25,带可变孔径光栏和可调视场光栏、带滤色片托架
集光器(卤素灯照明适用),6V/20W卤素灯,亮度可调
可升级配件 目镜:WF16X(Φ11mm)
物镜:20×/50×/80×/100×(干)
移动尺:移动范围30mmX25mm
高温加热台
PUDA高像素数码成像系统
颗粒分析统计软件
注解:●为标配、○为可升级配件    

仪器成套性

仪器成套性
⑴仪器主机1台 ⑷目镜2只 ⑺旋转载物台1个 ⑽补偿器3片 ⒀ 备用保险丝1只
⑵目镜筒1组 ⑸分划目镜1只 ⑻工件压簧片1组 ⑾国标电源线1根 ⒁ 仪器防尘罩1个
⑶物镜4只 ⑹测微尺1片 ⑼滤色片2片 ⑿备用灯泡1只 ⒂随机文件档案1套

数码应用方案配置

XPL-40C电脑摄像系统 XPL-40D数码相机摄像
XPL-40三目偏光显微镜 XPL-40三目偏光显微镜
高质量CCD适配镜 专业数码相机延迟镜
PUDA 300万USB型进口芯片显微镜摄像机(采用美国APTINA高性能芯片组/ USB2.0 高速通讯,高分辨率、完美的色彩还原处理/ Ultra-Fine专利色彩渲染技术) 1000万像素数码像机(推荐Nikon/Sony)
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