MX8R系列DIC微分干涉金相显微镜工业检测显微镜
MX8R三目明暗场微分干涉工业检测显微镜配置了落射与透射照明系统、明暗场半复消金相物镜、内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，配备了高性能DIC组件，可以将明场观察下无法检测的细微高低差，转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕新式表现出来，广泛用于LCD导电粒子，精密磁盘表面划痕检测等领域
CM80BD研究级高分子材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM80BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM80BD-AF电动研究级8寸大平台金相显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM80BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM60BD研究级金相材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM60BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM60BD-AF电动研究及金相显微镜晶圆检测半导体FPD检查
电动研究级材料检测显微镜CM60BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM40BD研究级材料检测显微镜金相分析
研究级材料检测显微镜CM40BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM40BD-AF电动研究级材料检测显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM40BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
VM3500M科研级透反射金相显微镜金相组织分析
科研级三目正置透反射金相显微镜VM3500M采用优质的无限远色差校正光学系统，全新设计的一体化T型机架，全金属高压模铸而成，稳定性强，高倍观察时像面无抖动，确保高倍测量的检测精度。内置明场、偏光观察功能，单颗10W LED暖白光照明图像高亮度、高分辨率、正色还原。适合观察金相试样分析，工业检测电子芯片等样品。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
DMM-100D数码型三目正置式金相显微镜
DMM-100D数码型三目正置金相显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的数码成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在数码相机上很方便地适时观察金相图像，并以数码照片记录下来,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以数码冲洗或打印出高像素金相照片。
DMM-330D透反射金相显微镜,电子、冶金、化工和仪器仪表行业用
DMM-330系列透反射金相显微镜适合电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物质，如金属陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料，也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。同时也是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
CMY-210Z太阳能单晶硅检测显微镜
CMY-210Z（GP-500）高精度硅片检查显微镜主要用于太阳能板检测显微的观察。太阳能检测显微镜能生产高清晰的图像,立体感较强，成像较清晰视野宽阔，配置有长工作距离物镜，并具有较大的视场范围和相应的放大倍数, 配有高像素的工业相机,可以清晰的看到硅片的”金字塔” 的微观形貌分布情况,及硅片的缺陷分析，是太阳能电池硅片的普遍专用显微镜。
DIC-950微分干涉相衬显微镜
DIC-950微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
DCM-680D三目检测显微镜
DCM-680系列透反射检测显微镜适合电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物资，如金属陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料，也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。同时也是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
BA310Met金相显微镜
BA310Met是电子、金属材料、矿物、地质、精密工程等检查、分析及研究的必备仪器，适用于教学、科研、工业等领域。采用同轴垂直照明系统，很好的消除了杂散光，从而大大提高成像的对比度（衬度）和清晰度。
BA310Met-H金相显微镜
面向工业应用领域的新型显微镜，具有优异的光学成像质量，可以从容应对品质管理，制造工序检查等观察需求。可以与用户的系统或使用需求灵活组合配套。应用领域：半导体检测、FPD、封装、电路基板、铸造、金属材料、精密模具等。
BA210Met金相显微镜
BA210Met是电子、金属材料、矿物、地质、精密工程等检查、分析及研究的必备仪器，适用于教学、科研、工业等领域。采用同轴垂直照明系统，很好的消除了杂散光，从而大大提高成像的对比度（衬度）和清晰度。
AE2000MET双目金相显微镜
全新AE2000Met 倒置金相显微镜，适用于教学、科研、工业等领域，是金属材料、矿物学、精密工程学、电子学等研究必备的仪器。
GX234 无限远光学系统倒置金相显微镜
GX234倒置金相显微镜采用优质的无限远光学系统，同时配备明暗场通用的长工作距离平场平场消色差物镜，多光路的系统设计，可同时支持双目镜筒观察和数码摄像装置观察。倒置金相显微镜可广泛应用于研究金属的显微组织，能在明场、暗场、偏光、微分干涉下进行观察和摄影，配备专用软件，更可同步进行测量分析。可供研究单位、冶金、机械制造工厂以及高等工业院校进行金属学与热处理、金属物理学、炼钢与铸造过程等金相试验研究之用。
GX231三目金相显微镜
无限远光学系统，提供了卓越的光学性能。可供观察和鉴别各种金属和合金的组织机构，其舒适稳重的镜体机构、高效方便的载物台设计、轻松快捷的操作方式,适合学校、工矿企业实验室长时间的轻松操作。
GX71研究级倒置金相显微镜
GX71奥林巴斯科研级倒置金相显微镜采用Zui新的万能无限远UIS 2光学系统， 提供Zui优秀犀利的成像质量， 无论明视场、 暗视场、微分干涉、偏光观察以及荧光观察都能够得到高分辨高反差的图像。视场数26.5mm提供同类机器里的Zui广视域。转盘式光路转换，操作简单便利。
GX41小型倒置金相显微镜
GX41是适合于生产线的小型化倒置金相显微镜，可以进行明视野、简易偏光观察。其机体轻巧紧凑，便于携带。
XTL-302BD明暗场正置金相显微镜
XTL-302BD正置金相显微镜适用于对不透明物体的显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察、暗场观察等功能，紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金相组织及表面形态的显微观察，是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。
XTL-2003A正置落射金相显微镜
XTL-2003系列正置金相显微镜适用于对不透明物体进行显微观察。本仪器配置落射照明器、长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，操作方便等特点，是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。
10XB-PC无限远光学校正系统科研级金相显微镜
10XB-PC无限远光学校正系统科研级金相显微镜，三目镜筒/标准C口，透射、反射、偏光、暗场，四孔转换器，双层移动平台，调焦粗、微动同轴调焦；透射照明和落射照明，12V30W AC85V-230V亮度可调，拍摄图片上加定倍标尺，图片可加文字功能，图像与标尺及文字合成并保存。