产品概述：
粒径统计分析显微镜55C-UV-G是一套专门用于固体或者液体中微小颗粒物进行粒径统计分析的显微分析系统，对透明和不透明样品上的颗粒都可以进行观察和统计,颗粒的检测范围：0.5~1000μm。该系统能自动提取每个颗粒的形状，并计算颗粒的尺寸，面积，圆度等参数，自动统计出颗粒的平均直径，及各个区间粒径所占的比例。系统配置了科研级三目透反射显微镜XJ-55C，粒度分析软件UV-G，专业高清晰CCD成像系统，电脑，打印机。精选专业高清晰模拟摄像头，使得图像边缘清晰，颗粒的提取更准确.粒度分析软件能自动对颗粒进行统计并给出相应的粒径报表，以供打印输出。该系统应用范围广泛，凡是与颗粒图像形态学有关的各种检测与分析：例如粉末及微颗粒分析，金相试样的球墨颗粒，PM2.5及空气中粉尘检测，注射液中不溶微粒分析，漆表面缺陷分析，油料中污染物含量分析，牛奶中乳酸菌含量、农业种子形态分析，医学组织细胞形态学各种微小异性几何尺寸测量，化学工业中各种反应物粒子的形态分析等，都可以利用UV-G来完成。
性能特点：
1、显微镜采用优质的无限远光学系统，提供卓越的光学性能；
2、配置了日本松下专业高清晰模拟摄像头，高性能图像采集卡，拍摄图像清晰；
3、配置了落射与透射照明系统两套照明系统，对透明和不透明的样品颗粒都进行观察统计；
4、能对颗粒图像进行多种测量，包括直径，圆度，面积等等，并能自动统计平均粒径，生成数据统计报表。测试结果准确。
| 序号 | 名称 | 技术参数 |
| 01 | 平场目镜 | 大视野WF10X(Φ22mm) |
| 02 | 无限远长距平场消色差物镜 | PLL5X/0.12、10X/0.25、20X/0.40、40X/0.60、80X/0.80 |
| 03 | 总放大倍数 | 50X-800X |
| 04 | 观察头 | 三目，铰链式30°倾斜可360°旋转 |
| 05 | 转换器 | 五孔(内向式滚珠内定位) |
| 06 | 粗调调焦范围 | 粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm. |
| 07 | 载物台 | 双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围: 75mmX50mm) |
| 08 | 光瞳距离 | 53-75mm |
| 09 | 滤色片 | 蓝、磨砂 |
| 10 | 聚光镜 | 阿贝聚光镜N.A.1.25，带可变光栏，可上下升降 |
| 11 | 落射照明系统 | 6V 30W卤素灯, 亮度可调 |
| 内置视场光栏、孔径光栏、(黄、蓝、绿、磨砂玻璃)滤色片转换装置，推拉式起偏振器 | ||
| 12 | 透射照明系统 | 6V 30W 卤素灯,亮度可调 |
| 13 | 仪器重量 | 净重10.0公斤 毛重12.0公斤 |
| 14 | 仪器尺寸 | 仪器尺寸26X46X55（cm） 包装尺寸28X35X65(cm) |
| 序号 | 配置名称 | 主要规格参数 |
| 01 | 三目透反射显微镜XJ-55C | 50-800X |
| 02 | 日本松下专业高清摄像头 | 彩色, Zui低照度：0.0003Lux(SENS UP模式) |
| 03 | 专业高精度图像采集卡 | 实时采集PAL制、NTSC制标准黑白/彩色信号，10 bit A/D采样 |
| 04 | 摄像接口MCL | 1X或者0.5X |
| 05 | 粒度分析软件UV-G | 包含所有基本测量功能，可以自动提取颗粒，自动统计颗粒的粒径，输出EXCEL报告。 |
| 06 | 联想台式机 | XP、win7系统，内存1G以上，独立显卡512M以上，PCI插槽 |
| 07 | 佳能打印机 | 彩色激光打印机 |
| 序号 | 名称 | 技术参数 |
| 01 | 测微目镜 | 10X |
| 02 | 无限远平场物镜 | 60X |
| 序号 | 名称 | 参数及功能 |
| 01 | CCD数字摄像头 | 140万、200万、500万（具有单张、定时采集图像、录像、显示比例尺、测量、图像拼接，融合等功能，并可以连接多媒体、打印、EMAIL等多种输出方式。） |
| 02 | CMOS数字摄像头 | 500万、800万、900万、1000万、1400万（具有单张、定时采集图像、录像、显示比例尺、测量、图像拼接，融合等功能，并可以连接多媒体、打印、EMAIL等多种输出方式。） |